Microscopie à Force Atomique
La Microscopie à Force Atomique (AFM) est une technique de microscopie à sonde locale qui permet d’étudier la topographie d'une surface. Pour ceci une pointe très fine (2 à 20 nm à son extrémité) supportée par un microlevier balaye l'échantillon. La pointe très proche de la surface subit de la part de celle-ci une force attractive ou répulsive selon la distance pointe-surface mesurée par la déviation du levier. Une image tridimensionnelle de la surface est ainsi restituée sous une haute résolution grâce à la détection des ces forces interatomiques entre la pointe et l'échantillon. Les deux équipements disponibles permettent à la fois la caractérisation topographique et l'analyse des propriétés mécaniques de l'échantillon.
Multimode 8 (Bruker) 
AFM à très haute résolution dédié à l’étude des échantillons de petite taille (ADN, ARN, protéines). Il permet d'utiliser plusieurs modes opératoires (contact, tapping, peak force tapping) dans l’air et en milieu liquide. Cet AFM a trois différents scanners utilisés en fonction de la dimension de l’échantillon :
- 0.4μm x 0.4μm XY and 0.4μm Z
- 10μm x 10μm XY and 2.5μm Z
- 125μm x 125μm XY and 5μm Z
Bioscope Catalyst (Bruker) 

Dédié l’étude d’échantillons de taille plus importante (chromosomes en métaphase, cellules, tissus). Il permet d'utiliser plusieurs modes opératoires (contact, tapping, peak force tapping) dans l’air et en milieu liquide. Scanner disponible ~ 150μm XY, ~ 20μm Z. Cet AFM est posé sur un microscope optique inversé DMI 6000B ( Leica Microsystems) avec contraste de phase et Epifluorescence pour permettre la définition de la zone d’intérêt et plus généralement le couplage des techniques. Il a la possibilité de travailler dans un environnent liquide contrôlé (en température et en CO2).